Vol. 8 No. 2 (2024)
Published : 30 Dec 2024
Article : 32
DOI: : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2
228-244 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.2114 : 78 : 64
245-254 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.2113 : 70 : 50
255-266 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.1954 : 37 : 28
267-274 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.1946 : 25 : 31
275-286 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.2197 : 41 : 23
286-293 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.2074 : 87 : 59
294-303 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.2149 : 48 : 26
304-317 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.2165 : 30 : 32
318-329 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.2155 : 236 : 48
330-341 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.2183 : 27 : 22
342-351 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.2118 : 41 : 17
352-359 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.2120 : 32 : 19
360-372 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.2144 : 44 : 29
373-386 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.2145 : 34 : 27
387-398 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.2231 : 29 : 21
399-409 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.2160 : 42 : 29
410-427 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.2139 : 36 : 29
428-437 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.2187 : 47 : 35
438-444 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.2219 : 67 : 36
445-453 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.1951 : 28 : 17
454-465 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.2167 : 40 : 40
466-472 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.2195 : 30 : 25
473-483 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.2174 : 31 : 27
484-492 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.2180 : 23 : 14
495-503 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.2102 : 18 : 26
504-515 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.2132 : 43 : 37
516-527 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.2228 : 29 : 17
528-537 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.2184 : 23 : 18
538-550 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.2232 : 41 : 29
551-565 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.2215 : 44 : 34
566-582 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.2142 : 53 : 35
583-594 : https://doi.org/10.37339/e-komtek.v8i2.2243 : 25 : 20